Hoc OCV (Open Circuit Voltage) et IR (Resistentia Interna) Tester est praecisio instrumenti ad celeri, non- peremptorius protegens cellularum altilium. Duos mensuras criticas praestat: static Open Circuit Voltage aestimare statum oneris et valetudinis cellae, ac resistentia DC Interna, methodo DC oneris typice utendi, potestatem facultatem et nexum integritatem aestimandi.
Aliquam altitudinis- mensurae celeritas (saepe in secundis), millivolt- accurate intentionis gradus, ac decies centena millia- resolutionis gradus resistentiae, hoc scamnum- top vel in- testor linearum% inspectionem in linearum productionibus essentialis est. Haec OCV machina tentativa efficaciter cellulas defectivas cum intentione abnormitatum agnoscit vel resistentiam internam altam ante formationem vel gradationem, massam constantiam procurans. Eius stabilia, iterabilia mensurae et facultates colligationis datae fundamentales sunt ad efficacem altilium genus et certa sarcina conventus in fabricandis et qualitatibus laboratorium moderantum.
Specificationes et locus applicationis
|
|
magnitudine |
Compatibility range |
|
Cellula altitudo (H) |
118~ 210mm |
|
|
Cellula latitudo (W) |
130~173mm |
|
|
Crassitudo cell. |
36~72mm |
Device compositionis
Haec machina in tribus consistit partibus: ratio intuens, fixtura probatio, ratio probatio OCV.
Scan Code System
Scan cellula manually.
Post intuens, cellulam datam ad exercitum programmatum computatorii imposuisti.
Test brachium systematis robotici
Tentatio fixturae consistit in mechanismo elevatio, mechanismo probandi, et mechanismo cellularum positione.
Post QR codicem perlustranti, mechanismum positio cellam machinam collocabit. Postquam positione perfecta est, brachium robot test descendet cum specillo mechanismo ad faciendum apertum-Circum Voltage (OCV) test in cellula altilium.
Test instans modum cylindri adoptat.
OCV Test System
Haec ratio instrumentorum testium et anulorum testium includit.
De modo procedendi in apparatu
quid
|
structuram armorum |
||
|
ordo numerus |
project |
technica parametri |
|
1 |
Fabrica channel comitem |
Test I altilium per test |
|
2 |
Apparatus color |
Latin calidum 1C (customizable) |
|
3 |
potentia opus copia |
AC220V±10% tres{2}} tempus quinque{3}} filum, 50HZ |
|
4 |
opus environment |
Ambiens temperies: 10-40 gradus; secundum humiditatem: Minus quam vel aequalis ad LX% |
|
5 |
Opus aeris fons |
0.5-0.8MPa |
|
6 |
plant facultatem |
Minor vel aequalis 1.0KW |
|
7 |
pondus armorum |
Minor vel aequalis 500kg* |
|
Testis organization |
||
|
ordo numerus |
project |
technica parametri |
|
1 |
probe |
Acus hodiernae serratur et caput est aurum- patella ut accurate transitum et voltagenum sampling curetur |
|
2 |
Probe torcular comitem |
Maior quam vel aequalis ad 20000 times |
|
3 |
Contactus resistentia specillum |
Minor quam vel aequalis ad 5mΩ |
|
OCV systema |
||
|
ordo numerus |
project |
technica parametri |
|
1 |
test funem |
torti saeptus par |
|
2 |
test instrumentation |
Sunny |
|
3 |
Voltage test accurate |
±(0.0035% pone+0.0005% FS) |
|
4 |
Voltage resolution |
10μV |
|
5 |
Internus resistentia test range |
0-3mΩ |
|
6 |
Internus resistentia test |
±0.5%rdg.±10dgt |
|
7 |
Internus resistentia resolutio |
0.1μΩ |
|
8 |
GRR |
Minus quam vel pervenerunt usque ad X% |
|
9 |
Nulla lamina |
Ingenium "Gong" - formatum [ut in editione prima BT3562 referendum est (A980-00) apud Nippon Electric Co., Ltd., Appendice XII, de nulla compositione principium 9454] |
|
10 |
Internus resistentia dominus obstructionum |
Valor resistentiae vexillum est 25 mΩ± 0.5 mΩ |
|
11 |
Locus adipiscing computatrum |
Configurationis requisita (provisum a Factione A); Operandi ratio: X vel postea Fenestra Sinica versio linguarum: Sinica CPU: Core i7 seu superiore Intel Memoria: 12GB vel Rigidum: 1TB vel Ostende: 19 pollices vel plus LCD propono |